適用于OLED、LCD 等顯示產(chǎn)品的畫面檢測(cè)，主要檢測(cè)缺陷為點(diǎn)、線、Mura等不良，可實(shí)現(xiàn)從1寸~115寸產(chǎn)品的全覆蓋設(shè)計(jì)。配置檢測(cè)算法。